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材料的特征检测(第II部分)


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材料的特征检测(第II部分)
  • 书号：7030064518
    作者：E.利弗森[美]
  • 外文书名：
  • 装帧：精装
    开本：16开
  • 页数：690
    字数：1020000
    语种：中文
  • 出版社：科学出版社
    出版时间：1998-06
  • 所属分类：TB3 工程材料学
  • 定价： ￥96.00元
    售价： ￥75.84元
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内容介绍

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　　本卷主要介绍表征合金、半导体、聚合物及陶瓷所需的表面检测方法，如俄歇显微术、场离子显微术及原子探针、高能离子探针等。卷中对扫描隧道显微术及相关近场探针技术也做了较为详细的介绍。本卷对各种表征技术的介绍比较全面、简洁。
　　本卷可供材料科学、冶金、物理、电子、生物、医学等研究、教学及生产的科学技术工作者阅读、参考。
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目录

  • 11、表面和界面的纳米尺度表征
    12、机械谱学
    13、扫描俄歇显微术
    14、定量声显微术
    15、用图像分析方法定量描述显微组织
    16、电子探针显微分析
    17、高能离子束分析技术
    18、场离子显微学和原子探针分析
    19、中子衍射
    20、X射线和中小角散射
    21、有机材料的表面、界面和薄膜的表征
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