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本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果，系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术，先进性、学术性和实用性兼备。全书共十一章，内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计，网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法，数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法，光电子器件本征响应特性分析和应用，光谱与频谱分析技术的总结。
本书适合从事光电子器件教学与研究的科技工作者、工程技术人员、研究生和高年级本科生阅读和参考。

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• “半导体科学与技术丛书” 出版说明
  序
  前言
  第一章　绪论
  1.1 　器件封装设计的重要性
  1.2 　器件测试分析的意义
  1.3 　本书主要涉及的器件类型
  1.4 　本书的特点
  第二章　高速半导体激光器的微波封装设计
  2.1 　激光器封装类型
  2.2 　微波设计和封装方法
  2.3 　激光器等效电路模型
  2.4 　集总参数和分布式模型
  2.5 　“黑盒子” 式等效电路模型
  2.6 　封装技术潜在带宽估计
  2.7 　激光器封装的优化设计
  2.8 　补偿技术
  思考题
  参考文献
  第三章　高速光调制器的微波封装设计
  3.1 　铌酸锂光波导调制器
  3.2 　电吸收光调制器
  3.3 　电吸收光调制器的等效电路模型
  3.4 　EML三端口等效电路模型的建立与分析
  3.5 　封装的优化设计
  思考题
  参考文献
  第四章　高速半导体光探测器的封装设计
  4.1 　封装类型
  4.2 　微波设计和封装方法
  4.3 　光探测器的等效电路模型
  4.4 　封装潜在带宽研究
  4.5 　封装的优化设计
  思考题
  参考文献
  第五章　小信号频率响应特性
  5.1 　小信号与大信号频率响应
  5.2 　常用的网络参数
  5.3 　散射参数
  5.4 　双端口级联网络的参数
  5.5 　光电子器件S参数
  5.6 　主要性能指标定义
  5.7 　动态特性曲线
  思考题
  参考文献
  第六章　网络分析仪扫频测试方法
  6.1 　测试方法优点与局限性
  6.2 　校准的概念和测试夹具的设计
  6.3 　校准过程中出现的问题
  6.4 　校准标准的选取
  6.5 　运算方法的选择
  6.6 　芯片测试方法
  6.7 　时域特性分析和相频特性测试
  6.8 　未解决的疑难问题
  参考文献
  第七章　调制器频率响应的小信号功率测试法
  7.1 　铌酸锂调制器小信号功率测试法
  7.2 　电吸收调制器小信号功率测试法
  思考题
  参考文献
  第八章　光外差技术及其应用
  8.1 　光外差原理及测试系统
  8.2 　激光器波长调谐方式
  8.3 　双激光器拍频法测量高速探测器的频率响应
  8.4 　采用单个DBR可调谐激光器的光外差法
  8.5 　高速光调制器的频率响应测量
  8.6 　自发辐射谱拍频法测量高速探测器的频率响应
  8.7 　光外差光谱分析技术以及激光器的线宽测量
  思考题
  参考文献
  第九章　大信号响应特性测试方法
  9.1 　数字通信用器件的大信号测量
  9.2 　大信号测试系统校准方法初探
  9.3 　模拟通信用器件的大信号测量
  9.4 　大信号特性与小信号相频特性
  9.5 　大信号响应测试的发展趋势
  思考题
  参考文献
  第十章　光电子器件本征特性分析及其应用
  10.1 　本征响应特性分析的意义
  10.2 　激光器本征特性分析
  10.3 　光探测器本征特性分析
  10.4 　光调制器本征特性分析
  10.5 　本征响应特性分析的应用
  思考题
  参考文献
  第十一章　光谱与频谱分析技术
  11.1 　光谱与频谱特性分析的意义
  11.2 　借助电域测量获得光电子器件的特性
  11.3 　借助光域测量获得光电子器件的特性
  11.4 　光注入对光电子器件响应特性的改善
  11.5 　光谱与频谱分析技术的发展趋势
  11.6 　“鸡和蛋” 问题的总结
  思考题
  参考文献
  索引