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内容简介
本书较为全面地叙述了微区成份、形态和结构分析这一极为重要的现代实验技术的进展。重点介绍了电子探针、离子探针、扫描电子显微镜、激光探针和透射电子显微镜等微区分析方法的基本原理、地质样品分析及地质应用，总结并反映了国内矿物微区分析的部分实践经验和研究成果。
本书可作为地质科技人员和地质院校师生的矿物微区分析的入门参考书，也可作为从事微区分析实验人员的参考手册，对冶金、电子、医学和其他材料部门的科技人员也具有一定的参考价值。
目录
- 第一章 矿物微区分析概述
第二章 电子探针及其地质应用
一、概述
二、电子探针在地质应用中的某些特点
三、电子探针的基本原理和基本结构
（一）电子探针基本原理
（二）电子探针的基本结构
（三）电子探针的发展趋势
四、分析试样的准备
（一）样品的制备
（二）样品的初步观察与研究
（三）导电膜的喷镀
五、矿物样品的分析
（一）定性分析
（二）定量测定
（三）定量分析的修正方法
六、地质应用实例
（一）微粒微量矿物鉴定的重大突破
（二）在矿产综合评价中的应用
（三）矿物内部化学性质的新揭露
（四）矿物的元素地球化学研究
（五）岩石学研究
（六）矿物阴极发光的初步研究
（七）矿物中某些元素价态的测定
（八）矿物晶体结构的某些研究
（九）矿物、岩石的常规分析和颗粒分析
（十）其他方面的应用
第三章 离子探针及其地质应用
一、概述
二、性能
三、原理
（一）离子探针的基本原理
（二）一次离子与物质的相互作用
四、仪器
五、IMS-300型离子探针分析器
六、样品制备
七、样品分析
（一）定性分析
（二）定量分析
八、应用实例
（一）同位素比值的测定
（二）矿物中超微量元素的研究
（三）矿物的超轻元素分析
（四）岩石矿物的微区分析
（五）面分析和深度分析的应用
第四章 扫描电子显微镜及其地质应用
一、概述
二、扫描电子显微镜成象原理
（一）扫描电子图象的衬度
（二）扫描电子图象的分辨率
（三）放大倍数和视域深度
三、仪器的基本组成和发展趋势
（一）仪器的基本组成
（二）仪器的发展趋势
四、样品制备
（一）金属膜的制作
（二）地质样品的制备
五、扫描电子图象的分析技术
（一）缺陷象的表现及其原因
（二）电子通道图的分析技术
（三）立体分析技术
六、应用实例
（一）沸石的研究
（二）石英颗粒的表面研究
（三）显微莓群的研究
（四）石油地质方面的应用
（五）古生物学方面的应用
（六）其他应用及其趋势
第五章 激光显微探针及其地质应用
一、概述
二、激光的基本原理
三、激光显微发射光谱仪
（一）激光光谱仪的基本特点
（二）激光光谱仪的基本装置
（三）激光光谱的定性分析和定量分析
四、地质样品的制备
五、地质应用
六、发展趋势
第六章 透射电子显微镜及其地质应用
一、概述
二、透射电子显微镜的基本性能与特点
三、基本原理
（一）电子与电子波长
（二）透射电子显微镜的成象原理
（三）透射电子图象的衬度
（四）透射电子图象的分辨率
四、透射电子显微镜的基本组成和发展趋势
（一）基本组成
（二）透射电子显微镜的发展趋势
五、样品制备
（一）一般要求
（二）地质样品的制备
（三）颗粒样品的制备
（四）间接观察样品的制备
（五）矿物薄膜样品的制备
六、应用实例
（一）粘土矿物的电子显微镜研究
（二）沉积岩的电子显微镜研究
（三）矿物结构的直接观察研究
（四）矿物的显微双晶和出溶作用的研究
（五）晶体缺陷及其地质意义的研究
（六）金属矿物的研究
附录
附录Ⅰ ZAF修正法公式中的符号说明
附录Ⅱ α因子表
附录Ⅲ 常见硅酸盐和氧化物的β因子及其主要组成
附录Ⅳ 常见硫化物的δ因子表
附录Ⅴ 超轻元素的质量吸收系数
图版 1—67
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