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本书主要针对精密光学元件检测原理与技术进行了全面、详细的介绍，并且追踪了最新的科技前沿技术的原理与应用，紧扣实际应用需求，对检测过程中的关键技术进行了研究。首先对光学元件的质量评价标准做了详细的介绍，包括表面面形误差评价标准、亚表面损伤的评价以及光学元件均匀性的评价。之后，对干涉检测原理与国际上前沿技术进行了介绍，特别是相移干涉技术、动态干涉技术等。对补偿法检测非球面，主要介绍了光学补偿器和计算全息补偿器，对其设计原理、制作工艺、装调技术进行了详细的介绍与分析。其后，对子孔径拼接技术的原理进行了介绍，对关键的拼接算法进行了详细的研究，搭建了测量平台，并在实际工程中获得了很好的应用。轮廓测量与结构光测量技术也是本书的重点之一，其在粗糙表面面形测量中有着十分重要的作用。最后，对亚表面的损失测量做了介绍与研究。全书共分为八章。第一章对光学元件检测做了概述，并提出了光学元件质量的各种评价指标。
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