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微电子封装超声键合机理与技术


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微电子封装超声键合机理与技术
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  • 书号:9787030412140
    作者:韩雷,王福亮,李军辉,隆志力
  • 外文书名:
  • 装帧:圆脊精装
    开本:B5
  • 页数:644
    字数:798
    语种:
  • 出版社:科学出版社
    出版时间:2014/6/30
  • 所属分类:
  • 定价: ¥150.00元
    售价: ¥90.00元
  • 图书介质:
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  本书是作者关于超声键合机理和技术研究的总结。主要内容包括:微电子制造的发展,超声键合在封装互连中的地位、研究现状、存在问题;换能系统的设计原则、仿真手段和实际使用中的特性测试;对超声键合微观实验现象以及机理的科学认识和推断;热超声倒装键合工艺的技术研究;键合过程和键合动力学的检测;叠层芯片互连;铜线键合、打火成球、引线成形、超声电源。   本书可作为高等院校微电子制造工程专业的研究生参考书,也可供机械、材料、测控技术等领域从事微电子制造研究的科研人员使用和参考。
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