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内容简介
X射线晶体学已经发展成为一门独立的分支学科，同时它又是许多学科（如数学、物理学、化学、地学、冶金学、生物学、药学、生命科学、材料科学及工程技术科学、纤维工艺学等）的实验基础．它所研究、分析的对象主要是多晶体，还包括单晶体、纤维及非晶态物质等．
本书论述了多晶二维X射线衍射技术的基本原理及其在研究各种固体物质微观结构上的应用．该书的特点是，首次将一个α角引进通用二圆衍射仪中，建立一套集布拉格方程、衍射线强度方程、方位角方程和各种扫描模式通式等四位一体的多功能数学模型，奠定了多晶二维X射线衍射分析的理论基础；进而应用于实践，统一了多晶材料X射线衍射定性、定量、剖面及取向分析等多种方法，并推广到表面反射和透过反射的各种情形中，从而实现一机多能，简化测试、数据处理过程，分析结果直观．
本书可供有关金属、薄膜材料以及化学和物理等专业的科研人员、技术人员以及教师、研究生和大学高年级学生参考．
目录
- 绪论——实空间多晶X射线衍射术概要
第1章 X射线基础
1.1 X射线的产生条件
1.2 X射线的性质
1.3 X射线谱
1.4 X射线的散射
1.5 X射线的衰减
1.6 X射线的防护
第2章 晶体学基本知识
2.1 空间点阵的概念
2.2 结点、晶向、晶面表示方法
第3章 布拉格定律和二维X射线衍射设备
3.1 X射线在晶体中的衍射
3.2 布拉格（Bragg）方程
3.3 方位角方程
3.4 二维衍射设备的几何学特点
3.5 X射线衍射设备
3.6 试样的测定
第4章 X射线的波动性理论和衍射线强度
4.1 引言
4.2 X射线的波动性理论——叠加原理
4.3 多晶X射线衍射强度
4.4 X射线衍射谱（花样）的形状
4.5 实用强度方程
第5章 X射线相分析基础
5.1 X射线相分析原理
5.2 衍射X射线的强度
5.3 相分析方法概要
第6章 相定性分析及其他
6.1 相的识别
6.2 二维X射线衍射技术的发展及应用
6.3 X射线衍射谱的其他特性及应用
第7章 相定量分析
7.1 引言
7.2 新法推导相定量强度方程
7.3 定量分析中的相对分析误差
7.4 相定量分析方法
7.5 写在相分析之后
第8章 不对称布拉格反射理论基础
8.1 不对称布拉格反射基本方程
8.2 各种扫描模式的关联
8.3 影响衍射线强度的各种因素
8.4 应用举例
8.5 TMCBD模式的例外
第9章 测角仪各种扫描模式及其关联
9.1 各种扫描模式的特点
9.2 各种扫描模式的功用
9.3 表面扫描模式间的关联
9.4 方位角函数作图法
第10章 测角仪的聚焦和几何光路计算
10.1 引言
10.2 准聚焦几何光学原理
10.3 光路计算
10.4 初级剖面的描述
10.5 仪器系统宽化的改善
10.6 理想不完善晶体
第11章 深度（取向）分辨的立体XRD谱
11.1 引言
11.2 物相纵向分析基础理论
11.3 三维立体XRD谱测定举例
11.4 三维立体XRD谱的意义
11.5 STD模式的其他应用方法举例
第12章 薄膜厚度的测定
12.1 引言
12.2 膜厚测定的基本原理
12.3 膜厚测定的数学近似方法
12.4 计算机模拟薄膜厚度
12.5 微束X射线超薄膜反射和能量色散衍射（EDD）理论
第13章 残余内应变（应力）的测定
13.1 引言
13.2 测定原理
13.3 应力测量公式的推导
13.4 应力测定
13.5 （准）聚焦几何光学原理
13.6 等倾法和侧倾法
13.7 织构试样的应力测定
第14章 晶粒大小测定原理
14.1 引言
14.2 谢乐方程的布拉格推导方法
14.3 广义谢乐方程的推导
14.4 广义强度方程及其意义
14.5 晶粒大小测定举例
14.6 关于几何宽化
第15章 微观应变测定原理
15.1 引言
15.2 微观应变表达式的推导
15.3 微观应变测定举例
15.4 新旧推导方法的比较
第16章 仪器几何宽化的评价
16.1 引言
16.2 衍射谱宽化机理
16.3 额外强度的表征
16.4 额外宽化的评价
16.5 归纳
第17章 双宽化剖面分析（直接法）
17.1 引言
17.2 基本关系式
17.3 应用举例
17.4 剖面分析归纳和总结
第18章 二维X射线衍射总结——三维实空间X射线衍射基础
18.1 引言
18.2 X射线多功能（XMF）数模的构成
18.3 XMF模型的重要作用
18.4 三维实空间球极坐标系的构成
18.5 五位一体的多功能数学模型——三维X射线衍射基本方程
18.6 三维X射线衍射技术的应用
18.7 结语
附录
附录一 元素的质量吸收系数[μ*（cm2·g﹣1）]
附录二 物理常数
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